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早期的MEMS微機(jī)電系統(tǒng)是依據(jù)AEC-Q100進(jìn)行檢測(cè)和驗(yàn)證,該車(chē)用芯片的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)不能滿(mǎn)足MEMS快速更新?lián)Q代的測(cè)試需求,AEC汽車(chē)電子委員會(huì)根據(jù)車(chē)載MEMS的特性制定出AEC-Q103-002標(biāo)準(zhǔn),為車(chē)用MEMS提供了更專(zhuān)業(yè)的指導(dǎo),對(duì)于MEMS做車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證也更具合理性。
2022/04/23 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了AEC-Q之ESD測(cè)試。
2025/01/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了AEC-Q之CDM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與方法。
2025/03/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了AEC-Q芯片剪切強(qiáng)度測(cè)試方法與要求。
2025/03/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了光耦合器是選擇車(chē)規(guī)級(jí)光電器件AEC-Q102認(rèn)證還是功率器件AEC-Q101認(rèn)證。
2025/01/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文講解了AEC-Q200被動(dòng)元件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證規(guī)范。
2021/07/12 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了分離半導(dǎo)體AEC-Q101認(rèn)證如何選擇測(cè)試項(xiàng)目和條件
2022/06/01 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了AEC-Q102中的氣體腐蝕試驗(yàn)原理與標(biāo)準(zhǔn)。
2022/08/17 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
AEC是美國(guó)汽車(chē)電子委員會(huì)的簡(jiǎn)稱(chēng),這個(gè)組織是克萊斯勒、福特和通用汽車(chē)、Delco Electronics等為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立的。
2019/02/26 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了汽車(chē)存儲(chǔ)芯片與車(chē)規(guī)級(jí)芯片AEC-Q100認(rèn)證。
2025/01/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享