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自然界中充斥著靜電。對(duì)于集成電路行業(yè),每一顆芯片從最開(kāi)始的生產(chǎn)制造過(guò)程、封裝過(guò)程、測(cè)試過(guò)程、運(yùn)輸過(guò)程到最終的元器件的焊接、組裝、使用過(guò)程,幾乎時(shí)刻都伴隨著靜電,在任何一個(gè)環(huán)節(jié)靜電都有可能對(duì)芯片造成損傷。
2022/07/21 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
消化內(nèi)鏡下止血一直是制約消化內(nèi)鏡手術(shù)發(fā)展重要原因。一旦出現(xiàn)手術(shù)中出血無(wú)法快速止血,內(nèi)鏡醫(yī)生只能去求助外科醫(yī)生開(kāi)刀解決出血問(wèn)題,這讓微創(chuàng)的內(nèi)鏡手術(shù)失去意義。好在消化領(lǐng)域絕對(duì)老大波科開(kāi)發(fā)Resolution系列的止血夾,才讓EMR、ESD等消化內(nèi)鏡手術(shù)變得安全可靠。
2022/10/06 更新 分類:熱點(diǎn)事件 分享
靜電放電可能會(huì)影響患者在臨床應(yīng)用場(chǎng)景中的區(qū)分,甚至破壞醫(yī)療器械。因此,靜電放電抗擾度試驗(yàn)(ESD)屬于電磁兼容性EMC中的EMS測(cè)試項(xiàng)目。在具體的電磁兼容測(cè)試中,靜電放電試驗(yàn)一次性通過(guò)率很低,大部分商品都要整改。本文簡(jiǎn)要介紹了靜電放電的干擾,介紹靜電的原因及其影響,以眼科設(shè)備驗(yàn)光儀為例,分析了靜電失效的原因,并采取了合理的改進(jìn)措施。
2023/04/09 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
盡管HBM模型和IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)所模擬的ESD來(lái)源都是外部帶靜電的人體或物體,但兩種標(biāo)準(zhǔn)面向的被放電的具體對(duì)象是不同的,并且他們的測(cè)試要求有幾個(gè)最重要的差別值得注意。
2023/04/26 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
靜電放電(ESD)是電子設(shè)備失效的主要原因之一,靜電放電發(fā)生器作為模擬靜電放電現(xiàn)象的關(guān)鍵設(shè)備,其準(zhǔn)確性直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的抗靜電能力測(cè)試結(jié)果。因此,靜電放電發(fā)生器的計(jì)量校準(zhǔn)檢測(cè)工作顯得尤為重要。
2025/07/17 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
五種二氧化硫檢測(cè)方法
2016/07/23 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
針對(duì)二噁英的食品安全限量標(biāo)準(zhǔn)制定工作,目前尚處在評(píng)估階段。
2017/08/02 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
食品中二氧化硫的測(cè)定方法標(biāo)準(zhǔn)
2018/01/24 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
二氧化硅的測(cè)定、鋁、鐵氧化物的測(cè)定、三氧化二鐵的測(cè)定——容量法
2019/07/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了ChordArt經(jīng)血管二尖瓣腱索修復(fù)技術(shù)
2021/05/17 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享