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本文介紹了IGBT的窄脈沖。
2023/04/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了IGBT模塊結(jié)構(gòu)及老化。
2023/06/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
擊穿電壓、擊穿強度和耐電壓測定目的要求、實驗原材料和儀器設(shè)備、實驗步驟
2017/10/27 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文主要介紹了IGBT失效模式與原因分析。
2021/11/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了IGBT常見可靠性試驗。
2022/03/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了IGBT模塊的常規(guī)檢查以及常見故障問題維修方法。
2024/07/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
從“工業(yè)心臟”到“失效密碼”:IGBT的技術(shù)深析與選型哲學
2026/01/07 更新 分類:檢測案例 分享
電壓擊穿指的是電介質(zhì)在足夠強的電場作用下將失去其介電性能成為導(dǎo)體,稱為電介質(zhì)擊穿,所對應(yīng)的電壓稱為擊穿電壓。
2016/09/21 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文主要介紹了擊穿電壓的主要影響因素有哪些
2022/05/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將圍繞柵氧化層擊穿的成因、特征及失效模型展開探討。
2025/08/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享