您當(dāng)前的位置：檢測預(yù)警 > 欄目首頁
本文通過一系列精密的分析手段，對鎳金鍍層焊接不良的失效案例進(jìn)行了深入研究，揭示了失效的原因，并提出了相應(yīng)的改進(jìn)措施。
2024/09/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
小信號MOS在進(jìn)行可靠性測試時(shí)失效，經(jīng)測試為GS漏電，對故障樣品進(jìn)行失效分析。
2024/11/16 更新 分類：檢測案例 分享
據(jù)客戶反映，其鴿環(huán)產(chǎn)品在-20℃下靈敏度降低，影響讀取?，F(xiàn)送1PCS不良品和5PCS其他批次的正常樣品進(jìn)行失效分析，以期找出失效原因。
2025/03/08 更新 分類：檢測案例 分享
三極管SOT23封裝導(dǎo)致低溫高濕電路失效分析案例。
2025/07/30 更新 分類：檢測案例 分享
關(guān)于 CMOS 器件的閂鎖效應(yīng)展開全面解析，從本質(zhì)定義、失效機(jī)理到防控手段，系統(tǒng)梳理了這一 CMOS 工藝固有技術(shù)問題的核心要點(diǎn)。
2025/09/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文將從定義、機(jī)理、高危行業(yè)，到具體防范措施，帶您全面了解電阻硫化失效的全貌。
2025/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享
密封失效的原因及分析
2025/10/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。
2020/10/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文基于整車線束失效解決案例，對線束系統(tǒng)引起的整車失效問題進(jìn)行系統(tǒng)的歸納總結(jié)，并提出基于PDCA有效的改進(jìn)措施，提高了汽車線束布置與走向設(shè)計(jì)的穩(wěn)健性，降低失效頻率。
2022/05/05 更新 分類：檢測案例 分享
鋁電解電容失效多因溫度、電應(yīng)力及機(jī)械損傷。科學(xué)選型、優(yōu)化設(shè)計(jì)（尤其大尺寸電容點(diǎn)膠）、規(guī)范運(yùn)輸與維護(hù)，可降低70%?以上失效率。當(dāng)前大容量場景下，掌握這些要點(diǎn)是提升設(shè)備可靠性的關(guān)鍵。
2025/11/04 更新 分類：檢測案例 分享
關(guān)于我們 聯(lián)系我們 營業(yè)執(zhí)照 全國服務(wù)電話：400-818-0021 嘉峪檢測版權(quán)所有 備案號：京ICP備14047019號-2 
京公網(wǎng)安備11010802046783號
