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  • X射線衍射基礎(chǔ)科學(xué)問(wèn)題知識(shí)點(diǎn)

    X射線衍射基礎(chǔ)科學(xué)問(wèn)題，X射線小角衍射和小角散射問(wèn)題，關(guān)于粉末衍射數(shù)據(jù)庫(kù)的問(wèn)題，XRD物相分析方面的問(wèn)題，XRD精修方面的問(wèn)題

    2019/03/26 更新 分類(lèi)：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 汽車(chē)維修領(lǐng)域常用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)適用性分析

    X光射線透視、超聲波檢測(cè)、工業(yè)內(nèi)窺鏡是當(dāng)前汽車(chē)維修領(lǐng)域常用的三大無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。

    2019/04/15 更新 分類(lèi)：生產(chǎn)品管 分享

  • 焊縫無(wú)損探傷四種方法比較

    常用的無(wú)損檢測(cè)方法:超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)、液體滲透檢測(cè)(PT)及X射線檢測(cè)(RT)。

    2019/06/06 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 輕質(zhì)無(wú)鉛透氣X射線防護(hù)服

    鉛由于具有較大的原子序數(shù)和密度，通常被作為屏蔽材料。但是一件鉛衣往往重量超過(guò)10千克，長(zhǎng)時(shí)間佩戴容易導(dǎo)致人體頸椎和腰椎出現(xiàn)問(wèn)題，且鉛衣缺乏透氣性，人體的舒適性不佳。而鉛的毒性也會(huì)對(duì)人體和環(huán)境都會(huì)造成危害。因此，開(kāi)發(fā)輕質(zhì)、無(wú)鉛，且具有優(yōu)異X射線屏蔽性能和良好舒適性能的屏蔽材料成為X射線屏蔽材料發(fā)展的重要方向。

    2023/04/06 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • CR檢測(cè)系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比

    CR檢測(cè)系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性作為無(wú)損檢測(cè)工藝控制的重要內(nèi)容，能規(guī)范相關(guān)檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用。為此，下文對(duì)GB/T 21356-2008，ASTM E2445-2014和EN 14784-1-2005三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的典型CR設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試的相關(guān)方法進(jìn)行對(duì)比分析，并進(jìn)一步梳理總結(jié)ASTM標(biāo)準(zhǔn)的要求，以期規(guī)范設(shè)備制造商的相關(guān)技術(shù)條款，為用戶建立CR系統(tǒng)長(zhǎng)期穩(wěn)定性質(zhì)量控制文件提供技術(shù)基礎(chǔ)，迎合高質(zhì)量的工業(yè)全球化趨勢(shì)。

    2021/06/25 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • X射線檢測(cè)技術(shù)在SMT首件中的應(yīng)用

    隨著電子科技的快速發(fā)展，各類(lèi)智能終端設(shè)備的興起，對(duì)電路組裝質(zhì)量的要求也越來(lái)越高。那么，如何確保這些活動(dòng)不會(huì)對(duì)后續(xù)的生產(chǎn)品質(zhì)產(chǎn)生影響呢？

    2016/05/10 更新 分類(lèi)：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 使用三維X射線檢查進(jìn)行在線焊錫滲透測(cè)試

    在PCB 制造領(lǐng)域中，通孔技術(shù)（Through-hole technology, THT）也許是最老的組裝技術(shù)。不過(guò)，即使在已有多年歷史的現(xiàn)代表面貼裝技術(shù)（SMT）中，通孔技術(shù)仍然有它的位置。即使在今天，用引

    2015/12/30 更新 分類(lèi)：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • X射線衍射法測(cè)定納米晶純鋁的平均晶粒尺寸

    筆者采用X射線衍射“積分寬度法”測(cè)定了放電等離子燒結(jié)制備的純鋁樣品的平均晶粒尺寸，同時(shí)介紹了該方法的基本原理、數(shù)據(jù)處理過(guò)程等，以供相關(guān)人員參考。

    2019/08/21 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 先進(jìn)材料表征方法

    本文介紹了先進(jìn)材料表征方法，特點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域，包括：X射線能譜分析（EDS），聚焦離子束分析（FIB），俄歇電子能譜分析（AES），X射線光電子能譜分析（XPS），動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）及飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）。

    2021/08/02 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • FDA更新診斷X射線、激光產(chǎn)品和超聲波產(chǎn)品最終規(guī)則

    這條規(guī)則今天（2023年02月22日 ）生效。這一最終規(guī)則將有助于確保對(duì)輻射電子產(chǎn)品和醫(yī)療設(shè)備的要求繼續(xù)保護(hù)公眾健康和安全，同時(shí)減少不必要的監(jiān)管負(fù)擔(dān)。

    2023/02/22 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享