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  • X射線(xiàn)衍射方法測(cè)量殘余應(yīng)力的原理與方法

    什么是殘余應(yīng)力?X射線(xiàn)衍射法測(cè)量殘余應(yīng)力的發(fā)展,X射線(xiàn)衍射法測(cè)量殘余應(yīng)力的基本原理,樣品與衍射面之間的關(guān)系,用X射線(xiàn)法測(cè)定應(yīng)力中存在的問(wèn)題

    2020/07/23 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 粉末X-射線(xiàn)衍射法測(cè)定辛伐他汀片中晶型Ⅰ的含量

    采用粉末X-射線(xiàn)衍射技術(shù)(PXRD)對(duì)2家公司的辛伐他汀片劑中晶型Ⅰ的含量進(jìn)行定量分析和比較。

    2019/09/16 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 藥物多晶型的定量檢測(cè)方法探討

    晶型定量檢測(cè)方法可能包括有:?jiǎn)尉射線(xiàn)衍射法、粉末X射線(xiàn)衍射法、紅外光譜法、差示掃描量熱法等,本文就這幾種常用的定量方法做簡(jiǎn)單介紹。

    2022/12/01 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • X射線(xiàn)衍射(XRD)基本原理剖析

    XRD全稱(chēng)X射線(xiàn)衍射(X-RayDiffraction),利用X射線(xiàn)在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線(xiàn)信號(hào)特征,經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。

    2018/07/03 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • X射線(xiàn)衍射法測(cè)定納米晶純鋁的平均晶粒尺寸

    筆者采用X射線(xiàn)衍射“積分寬度法”測(cè)定了放電等離子燒結(jié)制備的純鋁樣品的平均晶粒尺寸,同時(shí)介紹了該方法的基本原理、數(shù)據(jù)處理過(guò)程等,以供相關(guān)人員參考。

    2019/08/21 更新 分類(lèi):檢測(cè)案例 分享

  • 利用X射線(xiàn)衍射法進(jìn)行多晶型定量分析的要點(diǎn)介紹

    前言:藥物晶型是影響藥品質(zhì)量的重要因素,隨著藥物晶型監(jiān)管力度逐步增加,單純的定性分析原料藥API或制劑中的晶型已不能滿(mǎn)足質(zhì)量研究的要求,建立多晶型定量分析方法越來(lái)越必要。本文主要總結(jié)了利用粉末XRD進(jìn)行多晶型定量分析要點(diǎn)。

    2021/03/20 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • X射線(xiàn)衍射儀基本原理、構(gòu)造及XRD用于合金結(jié)構(gòu)確定

    X射線(xiàn)衍射儀基本原理、構(gòu)造及XRD用于合金結(jié)構(gòu)確定

    2017/09/26 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 殘余應(yīng)力的2種檢測(cè)方法:X射線(xiàn)衍射法or壓痕應(yīng)變法

    本文將分別采用這兩種方法對(duì)45鋼再制造零件進(jìn)行殘余應(yīng)力測(cè)試,并對(duì)兩種方法的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行對(duì)比。

    2018/12/27 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 電子衍射物相分析

    一、 電子衍射物相分析與X射線(xiàn)衍射 X 射線(xiàn)衍射一直是物相分析的主要手段,但電子衍射的應(yīng)用日益增多,與X射線(xiàn)物相分析相輔相成。首先電子衍射 物相分析 靈敏度非常高,就連一個(gè)

    2021/01/24 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 材料測(cè)試技術(shù)系列之(XRD)X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)

    X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction,XRD)。利用X射線(xiàn)在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線(xiàn)信號(hào)特征,經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

    2018/06/12 更新 分類(lèi):生產(chǎn)品管 分享