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嘉峪檢測(cè)網(wǎng)資料下載中心
更新日期:2022-06-23

海思HAST測(cè)試技術(shù)規(guī)范V1.2(5頁(yè))

海思HAST測(cè)試技術(shù)規(guī)范V1.2(5頁(yè)) 適用范圍: 該試驗(yàn)檢查芯片長(zhǎng)期貯存條件下,高溫和時(shí)間對(duì)器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的HAST測(cè)試需求,僅針對(duì)非密封封裝(塑料封裝),帶偏置bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測(cè)試。   簡(jiǎn)介: 該試驗(yàn)通過溫度、濕度、大氣壓力加速條件,評(píng)估非密封封裝器件在上電狀態(tài)下,在高溫、高壓、潮濕...

更新日期:2022-06-23

海思消費(fèi)類芯片可靠性測(cè)試技術(shù)總體規(guī)范V2.0(10頁(yè))

海思消費(fèi)類芯片可靠性測(cè)試技術(shù)總體規(guī)范V2.0(10頁(yè)) 適用范圍: 本規(guī)范規(guī)定了芯片可靠性測(cè)試的總體規(guī)范要求,包括電路可靠性、封裝可靠性。適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的通用測(cè)試需求,能夠覆蓋芯片絕大多數(shù)的可靠性驗(yàn)證需求。具體的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)可能不是本規(guī)范文檔,但來源于該規(guī)范。本規(guī)范描述的測(cè)試組合可能不涵蓋特定芯片的所有使用環(huán)境,但可以滿足絕大多數(shù)芯片的通用驗(yàn)證需求。 &nbs...

更新日期:2022-06-22

潔凈區(qū)凈化空調(diào)系統(tǒng)基礎(chǔ)知識(shí)培訓(xùn)教材.ppt(34頁(yè))

潔凈區(qū)凈化空調(diào)系統(tǒng)基礎(chǔ)知識(shí)培訓(xùn)教材.ppt(34頁(yè)) 課程目標(biāo): 1、了解凈化空調(diào)實(shí)際使用要求 2、了解空調(diào)結(jié)構(gòu)及功能實(shí)現(xiàn)原理 3、熟悉空調(diào)系統(tǒng)相關(guān)的測(cè)試活動(dòng)  

更新日期:2022-06-21

設(shè)備保養(yǎng)及點(diǎn)檢培訓(xùn)PPT(88頁(yè))

設(shè)備保養(yǎng)及點(diǎn)檢大全 課程大綱 設(shè)備點(diǎn)檢保養(yǎng)體系 設(shè)備點(diǎn)檢保養(yǎng)系統(tǒng) 設(shè)備技能多能工培訓(xùn) 設(shè)備點(diǎn)檢八定實(shí)務(wù)  

更新日期:2022-06-20

FMEA培訓(xùn)教材.ppt(49頁(yè))

潛在失效模式及后果分析 (FMEA) 目錄 1.作為一個(gè)團(tuán)隊(duì),如何創(chuàng)建 FMEA 及相關(guān)的行動(dòng)計(jì)劃 2.FMEA過程如何與過程圖相連接 3.失效模式,起因和后果之間的關(guān)系 4.不同類型的FMEA  

更新日期:2022-06-18

電源芯片失效分析案例集(61頁(yè))

電源芯片失效分析案例集(61頁(yè)) 目錄 1.電源芯片常見失效模式和失效機(jī)理3 2.電源芯片失效案例3 案例1(Boost電路輸入沖擊電流大)3 LT1308B起機(jī)沖擊電流案例分析3 案例2(復(fù)位芯片---WDI信號(hào)過沖問題)8 MAX6316復(fù)位異常分析8 案例3(電源芯片環(huán)路補(bǔ)償問題)11 TPS40077電源輸出異常...

更新日期:2022-06-18

XXX單板硬件測(cè)試用例模板.doc(9頁(yè))

XXX單板硬件測(cè)試用例模板.doc(9頁(yè)) 目錄 1.模版使用說明 2.用例模版 3.信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例 3.1.單端時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例 3.2.單端非時(shí)鐘信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例模板 3.3.差分信號(hào)質(zhì)量測(cè)試用例模板 4.電源質(zhì)量測(cè)試用例模板 4.1.各芯片電源質(zhì)量測(cè)試用例模板 4.2.單板內(nèi)各種電源上下電時(shí)間測(cè)試用例...

更新日期:2022-06-15

軟件開發(fā)計(jì)劃書模板(多文件).doc

軟件開發(fā)計(jì)劃書模板(多文件).doc 目錄 任務(wù)申請(qǐng).doc 可行性與計(jì)劃階段--可行性研究報(bào)告.doc 可行性與計(jì)劃階段--項(xiàng)目開發(fā)計(jì)劃.doc 需求分析階段--數(shù)據(jù)要求說明書.doc 需求分析階段--需求說明書.doc 需求分析階段--用戶手冊(cè)概要.doc 概要設(shè)計(jì)階段--概要設(shè)計(jì)說明書的.doc 概要設(shè)計(jì)階段--數(shù)...

更新日期:2022-06-14

新威布爾手冊(cè)The New Weibull Handbook[圖書](En,334頁(yè))

新威布爾手冊(cè)The New Weibull Handbook英文原版書籍,講解淺顯易懂,配以大量案例,十分適合自學(xué)威布爾分析,分析產(chǎn)品的可靠性。  

更新日期:2022-06-13

GB/T 34987-2017 威布爾分析標(biāo)準(zhǔn)(61頁(yè))

GB/T 34987-2017 威布爾分析標(biāo)準(zhǔn)(61頁(yè)) 本標(biāo)準(zhǔn)提供了利用連續(xù)變量(失效時(shí)間、失效里程或機(jī)械應(yīng)力等)分析威布爾數(shù)據(jù)的方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于隨機(jī)樣本在試驗(yàn)條件或工作條件下得到的有效失效數(shù)據(jù)(如失效時(shí)間、失效里程或機(jī)械應(yīng)力等)。其目的是估計(jì)總體的可靠性水平。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于獨(dú)立同分布數(shù)據(jù)。獨(dú)立同分布需要檢驗(yàn)或假定成立(見GB/T5080.1)。 本標(biāo)準(zhǔn)...