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您當前的位置：檢測預(yù)警 > 欄目首頁

  • 對一款老式比較器芯片進行逆向工程

    對一個未知老芯片進行了逆向分析，從內(nèi)部電路來看，這個芯片像是四個比較器，可能屬于射極耦合邏輯（ECL）系列。

    2024/12/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 芯片短路模式下常規(guī)的失效分析方法

    芯片短路失效模式在芯片失效分析中是最常見的，那么針對這種故障模式應(yīng)該怎么開展失效分析呢？

    2024/12/22 更新 分類：檢測案例 分享

  • NC管腳導(dǎo)致的芯片失效

    失效分析中，曾遇到過NC管腳導(dǎo)致的芯片失效，經(jīng)過靜電復(fù)現(xiàn)，復(fù)現(xiàn)相同的故障現(xiàn)象，因此推斷為ESD導(dǎo)致芯片失效。具體介紹一下這個案例.

    2025/03/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 我國人工智能芯片發(fā)展探析

    本文系統(tǒng)梳理了AI芯片領(lǐng)域產(chǎn)業(yè)和技術(shù)現(xiàn)狀，研判了我國AI芯片的發(fā)展方向并設(shè)計了相應(yīng)發(fā)展路徑。

    2025/03/14 更新 分類：行業(yè)研究 分享

  • 給芯片降溫的新方法

    本文主要介紹利用微流控技術(shù)提升芯片性能，推進人工智能芯片液冷技術(shù)的發(fā)展

    2025/11/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電源芯片UVLO功能與工作原理

    本文講解電源芯片中 UVLO（欠壓鎖定）功能，介紹其作用、工作過程、實現(xiàn)原理，該功能是芯片穩(wěn)定運行的重要保障。

    2025/12/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • LED芯片壽命試驗過程解析

    LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點，在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

    2020/08/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 如何檢驗LED芯片的可靠性

    LED具有體積小，耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點，在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

    2020/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 芯片設(shè)計、制造、封裝測試3步驟詳解

    我們逐一進行分析，芯片設(shè)計主要從EDA、IP、設(shè)計三個方面來分析；芯片制造主要從設(shè)備、工藝和材料三個方面來分析；封裝測試則從封裝設(shè)計、產(chǎn)品封裝和芯片測試幾方面來分析。

    2023/01/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 《集成芯片與芯粒技術(shù)白皮書（2023版）》

    《集成芯片與芯粒技術(shù)白皮書（2023版）》不僅剖析了集成芯片和芯粒領(lǐng)域的重要技術(shù)，而且包含了本領(lǐng)域的趨勢判斷分析，為我國集成芯片與芯粒領(lǐng)域的技術(shù)攻關(guān)和發(fā)展規(guī)劃提供了重要參考。

    2023/10/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享