您當前的位置：檢測預警 > 欄目首頁
本文介紹了隨機失效階段，也就是浴盤曲線的底部。
2024/04/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對錐形復合層壓板的失效機制進行了綜合實驗和數值研究。
2024/09/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了芯片失效分析流程與方法。
2024/09/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了動力電池常見激光焊接失效與解決方案。
2024/10/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了高加速鹽霧腐蝕失效機理、試驗標準與案例。
2024/10/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對FEoL階段的表面反轉（mobile ions）失效模式進行研究
2024/10/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了半導體失效機理之閂鎖效應。
2024/10/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了連接器常見失效模式及原因分析。
2024/10/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享
某芯片IO口開路失效，難道又是一個封裝級故障。
2024/11/01 更新 分類：檢測案例 分享
客戶汽車發(fā)動機支架設計壽命10萬公里，但在安裝之后即發(fā)生早期斷裂。
2024/11/23 更新 分類：檢測案例 分享
關于我們 聯系我們 營業(yè)執(zhí)照 全國服務電話：400-818-0021 嘉峪檢測版權所有 備案號：京ICP備14047019號-2 
京公網安備11010802046783號
