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在半導(dǎo)體制造中，晶圓（Wafer）邊緣（Edge）的 Die 與中心（Center）的 Die 在性能、良率和可靠性上存在顯著差異。這些差異主要源于制造過程中的物理效應(yīng)、工藝均勻性、熱應(yīng)力和光刻/刻蝕非均勻性等因素。
2025/09/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
環(huán)境與可靠性試驗標(biāo)準(zhǔn)介紹
2017/08/21 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
車輛可靠性強(qiáng)化試驗技術(shù)屬于可靠性強(qiáng)化試驗的一個應(yīng)用分支
2017/06/14 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
一個可靠性流程案例分享。
2021/07/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了可靠性管理；可靠性設(shè)計與分析，可靠性試驗和評價。
2021/07/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了可靠性分配定義、可靠性分配的目的及常用可靠性分配方法等內(nèi)容。
2023/06/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了可靠性鑒定、可靠性驗收試驗的實施步驟。
2024/08/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享
一文看懂軋制工藝
2017/11/30 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
對于工業(yè)上使用的儀器儀表，經(jīng)過一段時間的應(yīng)用，就會遇到產(chǎn)品的老化，需要對于整機(jī)進(jìn)行老化測試和環(huán)境試驗，這樣可以提早發(fā)現(xiàn)儀器儀表中潛在的一些故障，提前預(yù)備解決措施與方案，特別是可以發(fā)現(xiàn)帶有共性的故障，從而對其同類儀器儀表能夠及早通過修改電路和工藝進(jìn)行補救，有利于提高儀器儀表的耐用性和可靠性。
2015/11/26 更新 分類：實驗管理 分享
在X射線自動檢測系統(tǒng)（AXI）中，速度、可靠性和高分辨率是關(guān)鍵。對于典型的高性能電子產(chǎn)品生產(chǎn)線來說，周期時間以秒為單位計算，這些生產(chǎn)線通常24小時全天候運轉(zhuǎn)。因此，條件穩(wěn)定的高通量工藝流程至關(guān)重要。本文將給出如何在高端電子生產(chǎn)（PCB組裝）、電池生產(chǎn)和半后端生產(chǎn)環(huán)境中提高生產(chǎn)率和品質(zhì)可靠性的解決方案。
2021/03/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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