您當(dāng)前的位置:檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)
小信號(hào)MOS在進(jìn)行可靠性測(cè)試時(shí)失效,經(jīng)測(cè)試為GS漏電,對(duì)故障樣品進(jìn)行失效分析。
2024/11/16 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
芯片短路失效模式在芯片失效分析中是最常見(jiàn)的,那么針對(duì)這種故障模式應(yīng)該怎么開(kāi)展失效分析呢?
2024/12/22 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
要求可靠性目標(biāo)值MTBF≥1000h,可以按照如下的方法進(jìn)行.
2025/02/12 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文針對(duì)退針、歪針的失效,總結(jié)了以下產(chǎn)生原因并針對(duì)不同失效討論了對(duì)應(yīng)改善對(duì)策。
2025/03/11 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
失效分析中,曾遇到過(guò)NC管腳導(dǎo)致的芯片失效,經(jīng)過(guò)靜電復(fù)現(xiàn),復(fù)現(xiàn)相同的故障現(xiàn)象,因此推斷為ESD導(dǎo)致芯片失效。具體介紹一下這個(gè)案例.
2025/03/13 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
為了降低管道發(fā)生故障的可能性,管道泄漏檢測(cè)技術(shù)與安全評(píng)估的研究至關(guān)重要。
2025/03/18 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
今天分享一下幾次整車EMC故障問(wèn)題解決的經(jīng)歷。
2025/05/20 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
本文重點(diǎn)介紹了元器件可靠性的新特點(diǎn)和基于故障機(jī)理的可靠性方法等內(nèi)容。
2025/06/01 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
針對(duì)滾珠絲杠副監(jiān)測(cè)痛點(diǎn),提 CNVAE + 動(dòng)態(tài) KDE 方法,經(jīng)試驗(yàn)驗(yàn)證,可無(wú)故障數(shù)據(jù)早期精準(zhǔn)監(jiān)測(cè)
2025/09/24 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
FDA 第三次警示強(qiáng)生子公司 Abiomed 的 Impella 控制器,因沖洗固定器故障存風(fēng)險(xiǎn),強(qiáng)生擬設(shè)計(jì)變更并召回部分設(shè)備。
2025/09/29 更新 分類:監(jiān)管召回 分享