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本文將詳細(xì)介紹掃描電子顯微鏡的工作原理、結(jié)構(gòu)組成、技術(shù)優(yōu)勢(shì)及其在科研和工業(yè)中的應(yīng)用。
2024/09/25 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文將詳細(xì)討論在TEM樣品制備中如何選擇恰當(dāng)?shù)妮d網(wǎng)。
2024/11/04 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
【引言】 納米粒子和溶劑之間的相互作用,對(duì)于形成復(fù)亞穩(wěn)態(tài)納米結(jié)構(gòu)非常重要。但是采用傳統(tǒng)的液體電池透射電子顯微鏡(TEM),直接觀察是非常困難的。那么如何才能觀察到納米粒
2018/06/11 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文對(duì)一批產(chǎn)品軟板上SMT元件焊接后易脫落,不良率約為3.3%,PCB焊盤(pán)上的斷裂面在電子顯微鏡下觀察,表現(xiàn)為平整的斷裂面的案例進(jìn)行了解析。
2021/05/26 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
通過(guò)化學(xué)成分、金相檢驗(yàn)和掃描電子顯微鏡等方法對(duì)齒圈螺栓進(jìn)行分析,結(jié)果表明:齒圈螺栓斷裂是由于氫脆延遲斷裂而造成的。針對(duì)斷裂原因分析了氫脆產(chǎn)生的原因和采取預(yù)防措施。
2021/10/12 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
電子顯微鏡(EM)的重要性不言而喻,但是想要適得其用卻并不容易。本文從樣品的制備、載網(wǎng)的選擇,到儀器的操作與使用,再到圖像和數(shù)據(jù)的分析進(jìn)行介紹。
2023/10/08 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員利用高分辨透射電子顯微鏡和能譜儀對(duì)Zirlo合金和M5合金進(jìn)行了微觀組織和微區(qū)成分分析,結(jié)果對(duì)將來(lái)更好地研發(fā)和應(yīng)用鋯合金具有重要意義。
2024/07/30 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文通過(guò)采用熱點(diǎn)分析和聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)技術(shù),提出了一種高效的檢測(cè)手段,用以快速識(shí)別和分析溝槽MOSFET器件在電學(xué)性能和膜層結(jié)構(gòu)上的失效。
2024/08/21 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
掃描電子顯微鏡,是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來(lái)迅速發(fā)展起來(lái)的一種新型的電子光學(xué)儀器,被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門(mén)。
2017/03/06 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來(lái)的顯微鏡。
2020/09/25 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享