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  • 錫須是什么？錫須觀察試驗方法

    錫須（Tin whisker），是電子產(chǎn)品及設(shè)備中一種常見的現(xiàn)象。

    2017/06/15 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 錫須是如何影響產(chǎn)品可靠性的呢？

    什么是錫須呢？NASA已經(jīng)就錫須問題進(jìn)行了多年研究，他們將其定義為可在材料外層的錫（通常為電鍍錫）表面上生長的導(dǎo)電錫晶體結(jié)構(gòu)。典型的錫須是從表面伸出來的，其形狀為很細(xì)的單絲或者頭發(fā)狀 凸出。

    2020/08/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 錫須介紹與觀察

    錫須是在純錫或錫合金鍍層表面自發(fā)生長出來的一種細(xì)長形狀的錫的結(jié)晶。在電子線路中，錫須會引起短路，降低電子器件的可靠性，甚至引發(fā)電子器件故障或失效.。

    2015/11/02 更新 分類：實驗管理 分享

  • Sn錫晶須生長的機(jī)理與抑制

    晶須生長本質(zhì)上屬于一種自發(fā)的，不受電場、濕度和氣壓等條件限制的表面突起生長現(xiàn)象，而以含Sn鍍層表面生長的Sn晶須最典型。

    2020/03/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 半導(dǎo)體器件錫須失效機(jī)理和模型

    本文對錫須生長模型進(jìn)行研究

    2024/11/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 表面形貌觀察與測量

    錫須觀察與測量，電子顯微形貌觀察與測量，表面粗糙度分析，金屬間化合物觀察與測量，光學(xué)顯微形貌觀察與測量。

    2021/06/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • AEC-Q之錫須生長測試

    錫須測試對于維護(hù)汽車電子系統(tǒng)的安全性和可靠性是必不可少的，它幫助確保元件在面對高溫、濕度和其他環(huán)境壓力時不會發(fā)生故障。

    2025/01/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 無鉛元器件對高可靠系統(tǒng)的影響：錫須、錫瘟、混裝

    無鉛封裝工藝是制造商為了滿足RoHS指令要求或順應(yīng)電子產(chǎn)品無鉛化趨勢逐漸發(fā)展起來的，尤其是國外大多數(shù)進(jìn)口元器件基本都是采用無鉛工藝，這就導(dǎo)致在航天、航空系統(tǒng)里被迫引入了無鉛元器件，帶了諸多可靠性隱患。

    2020/09/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • BGA錫球裂開的改善對策

    BGA錫球裂開的改善對策

    2022/11/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 碘量法測定錫

    在鹽酸溶液中，將錫還原成二價，然后用碘使二價錫氧化為四價

    2018/09/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享