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可靠性(Reliability)是對(duì)產(chǎn)品耐久力的測量,本文主要介紹集成電路的可靠性。
2020/10/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對(duì)FCBGA封裝集成電路常見的失效機(jī)理給出了簡要介紹
2021/05/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了氣密封裝集成電路封蓋密封的典型空洞形成機(jī)理、解決措施及檢測手段。
2021/07/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了集成電路制造階段中的靜電導(dǎo)致器件的電性不良情況。
2021/11/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
高頻超聲集成手術(shù)設(shè)備,如果既可以單獨(dú)輸出高頻或超聲能量,又可以同時(shí)輸出高頻和超聲能量,進(jìn)行電磁兼容檢驗(yàn)時(shí)應(yīng)如何考慮測試模式?
2022/05/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了PEM用于集成電路失效定位的原理及案例分享.
2022/07/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了工業(yè)機(jī)器人的核心零部件、本體與集成
2022/11/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
整車集成正向開發(fā)是一個(gè)汽車企業(yè)研發(fā)能力和水平的表現(xiàn),客觀科學(xué)地比較不同車企之間的整車集成正向開發(fā)價(jià)值能力具有指導(dǎo)意義。
2024/05/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
介紹集成器件 9 類高發(fā)問題參數(shù)及影響并給出參數(shù)測試、選型與替換的注意事項(xiàng)。
2025/10/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文基于理化分析,用蒙特卡羅仿真探究集成電路失效機(jī)理及分布,為其失效率預(yù)計(jì)提供技術(shù)與方法支撐。
2025/12/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享