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本文介紹了MOSFET的失效機(jī)理：dV/dt失效和雪崩失效
2022/11/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了汽車Si MOSFET與車規(guī)級功率器件AEC-Q101認(rèn)證。
2025/01/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享
MOSFET的非理想效應(yīng)(Non-Ideal Effect)-LKJ,DIBL,GIDL。
2025/08/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文將從基本特性出發(fā)，拆解 MOSFET 的失效密碼，結(jié)合真實(shí)案例給出防范方案，為工程師和電子愛好者提供專業(yè)參考。
2025/11/28 更新 分類：檢測案例 分享
同步帶在投入使用之前我們需要對其進(jìn)行拉伸性能試驗(yàn)，那么大家是否了解同步帶拉伸性能試驗(yàn)的方法都有哪些嗎?
2019/06/18 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
體外同步復(fù)律監(jiān)護(hù)儀適用于體外同步復(fù)律產(chǎn)品，可進(jìn)行體外同步復(fù)律治療，產(chǎn)品的管理類別為Ⅲ類，是用于心臟治療、急救的設(shè)備或系統(tǒng)。本文對體外同步復(fù)律監(jiān)護(hù)儀的研發(fā)實(shí)驗(yàn)要求、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與主要風(fēng)險(xiǎn)等內(nèi)容進(jìn)行了詳細(xì)的介紹。
2021/08/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本次步分享關(guān)于醫(yī)療器械的包裝設(shè)計(jì)。
2024/07/31 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文通過采用熱點(diǎn)分析和聚焦離子束-掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術(shù)，提出了一種高效的檢測手段，用以快速識別和分析溝槽MOSFET器件在電學(xué)性能和膜層結(jié)構(gòu)上的失效。
2024/08/21 更新 分類：檢測案例 分享
本文通過功率MOSFET管的工作特性，結(jié)合失效分析圖片中不同的損壞形態(tài)，系統(tǒng)的分析過電流損壞和過電壓損壞，同時(shí)，根據(jù)損壞位置不同，分析功率MOSFET管的失效是發(fā)生在開通的過程中，還是發(fā)生在關(guān)斷的過程中，從而為設(shè)計(jì)工程師提供一些依據(jù)，來找到系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一些問題，提高電子系統(tǒng)的可靠性。
2021/11/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文將分為兩大部分，第一部分將深入探討MOSFET的失效率，揭示其背后的物理機(jī)制與統(tǒng)計(jì)意義；第二部分將系統(tǒng)性地闡述如何選擇一個(gè)優(yōu)秀的MOSFET，構(gòu)建一套從參數(shù)到供應(yīng)商的完整選型體系。
2025/12/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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