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本文介紹了疲勞強(qiáng)度設(shè)計(jì):無限壽命設(shè)計(jì)法,有限壽命設(shè)計(jì)法及復(fù)合應(yīng)力下的疲勞強(qiáng)度設(shè)計(jì)。
2021/11/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了公差設(shè)計(jì)的本質(zhì)、實(shí)踐中的問題及公差設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)。
2021/12/21 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文介紹了復(fù)合材料設(shè)計(jì)概述與設(shè)計(jì)規(guī)范。
2022/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了復(fù)合材料設(shè)計(jì)時(shí)詳細(xì)尺寸(計(jì)算機(jī)程序)設(shè)計(jì)。
2022/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文著重討論“設(shè)計(jì)驗(yàn)證”和“設(shè)計(jì)確認(rèn)”。
2023/04/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹交流、直流電源入口的EMC設(shè)計(jì)。
2023/05/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
醫(yī)療器械設(shè)計(jì)確認(rèn)是設(shè)計(jì)開發(fā)重要階段,是確保產(chǎn)品設(shè)計(jì)滿足預(yù)期用途的重要環(huán)節(jié)。
2024/06/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了質(zhì)量源于設(shè)計(jì)在藥物制劑設(shè)計(jì)中的應(yīng)用。
2024/08/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了機(jī)械設(shè)計(jì)過程中的安全、設(shè)計(jì)基本準(zhǔn)則。
2024/09/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。
2017/11/01 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享